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Leica AM TIRF

TIRF (Total Internal Reflection Fluorescence) microscope system

概要

TIRF Microscope System

全反射蛍光顕微鏡
  ライカ AM TIRFは、レーザースキャン方式の採用でアライメントを自動化し、操作性を追及した全反射蛍光顕微鏡です。
ライカ統合ソフトウェアプラットフォーム LAS AFがTIRF観察の全てを完全制御。エバネッセント場深度指定、レーザービーム照射向き切換の高精度、高再現性を可能にしました。

主な特徴

  • マルチラインアルゴンレーザーを光源に採用。全反射角度と屈折率は、LAS AFがスキャナー角度と反射光量から自動計測。
  • エバネッセント場の深度は70nm - 310nmまで7ステップで登録。
  • レーザー入射方向は4方向に登録、再現が可能。
  • 新開発TIRF対物レンズ